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湘科STD-C介电常数及介质损耗测试仪 自动计算并显示

湘科STD-C介电常数及介质损耗测试仪 自动计算并显示
  • 单      价:¥3.00 起 订 量 :1台
  • 品      牌:成品出售
  • 产      地:湖南-湘潭
  • 发布时间:2022-07-21
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湘潭湘科STD-C介电常数及介质损耗测试仪 自动计算并显示湘潭湘科STD-C介电常数测试仪,智能款STD-C高频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由测试装置(夹具)、高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入STD-C的软件模块)、及电感器组成。依据国标GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法、GB/T 1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的z佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用STD-C数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。STD-C介电常数/介质损耗测试系统系统组成:主机:高频Q表

功能名称:STD-C信号源范围DDS数字合成信号100KHZ-160MHz信号源频率覆盖比16000:1信号源频率精度 6位有效数3×10-5 ±1个字   采样精度12BIT高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差