科明高压加速老化试验箱 用于半导体电子材料加速寿命信赖性试验

英文名称：Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test
产品别名：HAST寿命试验箱,HALT、 HAST 试验箱,高加速温度和湿度压力测试箱,HAST CHAMBER,加速老化试验机,高温高湿高压老化箱,加速寿命试验机,高压加速老化箱,寿命高加速试验箱,饱和稳态湿热试验箱,HAST测试箱等可靠性试验设备。
产品用途：
HAST/HALT试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露
产品特点：
◆内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
◆采用高效真空泵，使箱内达到最佳纯净饱和蒸汽状态。
◆采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。
◆汽车级硅胶整体密封条，气密性好，耐用；
◆全自动补水功能,前置式水位确认。
◆采用干湿球传感器直接测量(控制模式分为：干湿球、不饱和、湿润饱和等3种模式)。